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工業(yè)CT(ICT)指的是計(jì)算機(jī)斷層成像或工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層成像。盡管有關(guān)層析成像理論的數(shù)學(xué)理論很早就在1917年由J.Radon提出，但僅僅是在計(jì)算機(jī)出現(xiàn)之后，與輻射學(xué)科相結(jié)合之后，才發(fā)展成為一種新的成像技術(shù)。尤其是在NDT(NDT)和NDE(NDE)這兩個(gè)領(lǐng)域，工業(yè)界表現(xiàn)出了自己的獨(dú)特性。

所以，工業(yè)CT是國(guó)際無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域中**的無(wú)損檢測(cè)手段。自20世紀(jì)80年代以來(lái)，世界主要工業(yè)化國(guó)家在航天、航空、航空、軍事、冶金、機(jī)械、石油、電力、地質(zhì)、考古學(xué)等多個(gè)部門(mén)都使用X射線或γ射線ICT技術(shù)，檢測(cè)對(duì)象有導(dǎo)彈、火箭、火箭、軍用密封組件、核廢料、石油巖芯、計(jì)算機(jī)芯片、精密鑄件與鍛件、汽車(chē)輪胎、陶瓷及復(fù)合材料、海關(guān)藥物、考古化石等。

在我國(guó)，也逐漸將ICT技術(shù)應(yīng)用于工業(yè)無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域。21世紀(jì)道ICT更是進(jìn)一步發(fā)展，已成為一項(xiàng)重要的先進(jìn)無(wú)損傷檢測(cè)技術(shù)。

1.無(wú)損檢測(cè)范圍：主要是對(duì)ICT的檢測(cè)對(duì)象。若能透射鋼的最大厚度，檢測(cè)工件的最大回轉(zhuǎn)直徑，檢測(cè)工件的最大高度或長(zhǎng)度，檢測(cè)工件的最大重量等。

2.所用射線源：X射線能量大小、工作電壓、工作電流和聚焦尺寸。

3.ICT掃描方式：采用何種掃描方式，是否具有數(shù)字射線檢測(cè)或?qū)崟r(shí)成像等功能。

4.掃描探測(cè)時(shí)間：指掃描一次斷層資料的采集時(shí)間。

5.圖像重建時(shí)間：指重建圖像所需的時(shí)間。

6.分辨率：是關(guān)鍵性能指標(biāo)，包括：空間分辨率：指從CT圖像識(shí)別最小物體的能力。

密度分辨率：是利用圖像的灰度來(lái)區(qū)分被檢測(cè)材料的基本方法(因?yàn)榛叶戎苯臃从潮粰z測(cè)物的密度)。密度分辨與空間分辨率的關(guān)系。當(dāng)輻射劑量一定時(shí)，空間分辨率和密度分辨率是兩個(gè)相互矛盾的指標(biāo)。

利用工業(yè)CT能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行非接觸、非破壞的檢測(cè)，獲得無(wú)重疊數(shù)據(jù)和zd圖像，不僅能精確地給出物體內(nèi)部細(xì)節(jié)的三維位置信息，還能定量地提供細(xì)節(jié)輻射密度數(shù)據(jù)。

伴隨著制造業(yè)的快速發(fā)展，對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)提出了更高的要求，對(duì)關(guān)鍵、復(fù)雜部件甚至內(nèi)部缺陷進(jìn)行嚴(yán)格的檢測(cè)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸的精確檢測(cè)。

超聲、射線等傳統(tǒng)的檢測(cè)方法，如超聲、射線等檢測(cè)手段已不能滿足要求。因此，在檢測(cè)領(lǐng)域發(fā)展了一系列先進(jìn)的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，工業(yè)CT技術(shù)就是其中之一。

NDS可分為五大類：超聲檢測(cè)UT(UltrasonicTesting)、射線檢測(cè)(RadiographicTesting)、磁粉探測(cè)MT(MagneticparticleTesting)、滲透探測(cè)PT(PenetrantTesting)、渦流探測(cè)(EddycurrentTesting)。

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