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xray檢測
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X-RAY檢測IC芯片
發(fā)布時間:2022-06-25 09:00:00

說到我們周圍無處不在的IC芯片,很多人一定不熟悉它。例如,我們每天使用的手機(jī)、電視和電腦中的芯片實(shí)際上是IC芯片。它被翻譯成中文,即集成電路。IC芯片的結(jié)構(gòu)是大量的微電子元件,如電容器、電阻形成的集成電路放在基板上,以制作芯片。

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IC芯片是如何制作的?

需要注意的是,IC芯片主要由無數(shù)微型電子設(shè)備和零部件組成,因此非常精確。通過相應(yīng)的生產(chǎn)工藝,將電路中所需的晶體管、電阻、電容、二極管等元件與接線連接在一起,制成一小塊甚至幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片,然后包裝在管殼中,成為具有所需電路功能的微結(jié)構(gòu)。

 

傳統(tǒng)芯片檢測的缺點(diǎn)。

在整個生產(chǎn)過程中,所有元件都在結(jié)構(gòu)上形成了一個整體,從而使電子元件向小型化和低功耗邁進(jìn)了一大步,具有了更高的可靠性。但同時,相應(yīng)而來的問題出現(xiàn)了,電路越精確,檢測就越困難。目前,在我國進(jìn)行芯片檢測時,往往采用層層剝離芯片的方法,然后用電子顯微鏡拍攝芯片的每一層表面。這種傳統(tǒng)的檢測會對芯片造成一定的破壞。直到X-RAY無損檢測設(shè)備出現(xiàn),這種尷尬才得到徹底解決。

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X-RAY檢測的優(yōu)點(diǎn):

X-RAY檢測作為目前市場上的主流檢測,主要采用X-RAY檢測設(shè)備產(chǎn)生的x射線照射芯片表面。由于x射線的穿透力很強(qiáng),穿透芯片后可以成像,使芯片的內(nèi)部缺陷一目了然。此外,x射線對芯片檢測沒有損壞,因此也稱為無損檢測。除芯片檢測外,鋰電池、LED燈珠、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的缺陷檢測也可以通過其進(jìn)行完美的檢測。

 

X-RAY檢測的原理:

X-RAY檢測設(shè)備通過強(qiáng)壓力電子穿透產(chǎn)品內(nèi)部,并生成圖像(使用不同的材料吸收不同的光,從而留下具有不同亮度和暗度的膜進(jìn)行分析,如上圖所示)。 X-RAY檢測設(shè)備穿透樣品,檢測樣品的內(nèi)部缺陷是有效且快速地檢測內(nèi)部缺陷的當(dāng)前無損方法之一。

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