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xray檢測(cè)
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X-ray檢測(cè)應(yīng)用之發(fā)現(xiàn)假冒電子元器件
發(fā)布時(shí)間:2020-05-13 09:00:00

    假冒對(duì)供應(yīng)鏈經(jīng)濟(jì)造成了日益嚴(yán)重的威脅。由于利潤(rùn)的驅(qū)使,除了仿冒的電子元器件之外,不法商販將翻新的IC等電子元器件作為原廠器件進(jìn)行銷(xiāo)售,也是假冒器件的一個(gè)主要來(lái)源。


    制假的電子元器件,由于其制造工藝和設(shè)備的限制,其性能和可靠性與正規(guī)原廠的產(chǎn)品相去甚遠(yuǎn);翻新的假冒電子元器件,由于經(jīng)過(guò)多次焊接,長(zhǎng)期使用,翻新過(guò)程的損傷,其性能和可靠性衰退許多。不論哪一種假冒元器件,都會(huì)造成整機(jī)產(chǎn)品的早期失效,或?qū)Ξa(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性造成負(fù)面影響。


         由于技術(shù)的改進(jìn),假冒元器件的外形越來(lái)越逼真,數(shù)量越來(lái)越大,而且鑒別難度也日益增加。目視檢查幾乎已經(jīng)不能檢測(cè)到假冒產(chǎn)品。因此鑒別可疑假冒元器件需要通過(guò)專(zhuān)業(yè)測(cè)試儀器和手段進(jìn)行測(cè)評(píng),如掃描電子顯微鏡檢查、X光透視、顯微切片、掃描電鏡/能譜、芯片開(kāi)封、掃描超聲顯微鏡、伏安曲線追蹤儀等。


        傳統(tǒng)的破壞性物理分析(DPA)和失效分析(FA)受到其專(zhuān)業(yè)性、破壞性、時(shí)效性、成本等方面的限制,只限于少數(shù)科研機(jī)構(gòu)、配置實(shí)驗(yàn)設(shè)備和人力資源的企業(yè)采用,大多數(shù)企業(yè)沒(méi)有條件實(shí)行。


        相比之下, X-ray檢測(cè)具有無(wú)損、快速、易用、相對(duì)低成本的特點(diǎn),得到了越來(lái)越多的電子產(chǎn)品制造商的青睞。X-ray檢測(cè)可用來(lái)檢查元器件的內(nèi)部狀態(tài),如芯片排布、引線的排布以及引線框架的設(shè)計(jì)、焊球(引線)等。對(duì)復(fù)雜結(jié)構(gòu)的元器件,可以調(diào)整X光管的角度、電壓、電流以及圖像的對(duì)比度和亮度,獲取有效的圖像信息,與正規(guī)原廠正品進(jìn)行比較,或與正規(guī)原廠元器件的數(shù)據(jù)表比對(duì),從而鑒別器件的真?zhèn)巍?/span>


        許多知名標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)規(guī)定X-ray檢測(cè)技術(shù)作為假冒電子元器件探測(cè)技術(shù),這是因?yàn)閄-ray的無(wú)損透視能力,即X-ray穿過(guò)不同密度的物質(zhì)會(huì)在X-ray感應(yīng)器上投下陰影,從而形成圖像。如下圖就是典型集成電路的X-ray照片,其內(nèi)部結(jié)構(gòu)一目了然。



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