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產(chǎn)品說明  Product description

日聯(lián)科技半導體X射線檢測設(shè)備 —— AX8300Si

日聯(lián)科技為滿足半導體客戶對X射線檢測的需求，推出的一款具備高性能、高清晰度和高分辨率的X-ray檢測設(shè)備，主要應用于Lead Frame檢測

設(shè)備應用  Application

日聯(lián)科技微焦點X-ray AX8300Si 適用于半導體、SMT、DIP、覆蓋IC、BGA、CSP、倒裝芯片、LED等檢測

高清晰實時成像，可自動測算金線、氣泡空洞率，自帶上下料、配置高速CNC巡航自動測算

產(chǎn)品特點  Product Characteristics

客戶案例  Customer Case

日聯(lián)科技半導體X-ray設(shè)備AX8300Si采用的是免維護、壽命長的封閉式微焦點X射線源，配置百萬級高分辨率FDP探測器，

擁有強大的圖像處理功能，NG品自動打標、配置Rework復判服務(wù)器，可對接MES系統(tǒng)

安全保障  Safety Protection

防輻射結(jié)構(gòu)-射線源無動作自保護功能-接地保護